|
CENTER ZA ELEKTRONSKO MIKROSKOPIJO IN ANALIZO POVRŠIN (CEMAP) Moderne metode elektronske mikroskopije in mikroanalize ter metode za analizo površin so nepogrešljive pri preiskavah in razvoju sodobnih materialov, saj omogočajo strukturno in kemijsko karakterizacijo na mikrometrskem, nanometrskem in atomskem nivoju. Implementacija in razvoj tovrstnih analitskih metod je zato nujen prvi pogoj v vseh raziskovalnih in razvojnih institucijah, ki se ukvarjajo z raziskavami in razvojem materialov. |
Institut "Jožef Stefan", Jamova 39, 1000 Ljubljana, Slovenija, Telefon: (01) 477 39 00, Faks.: (01) 251 93 85 |