LEM

LABORATORIJ ZA ELEKTRONSKO MIKROSKOPIJO (LEM)

Vodja centra
dr. Erik Zupanič, erik.zupanic@ijs.si
Telefon: (01) 477 35 52

Laboratorij za elektronsko mikroskopijo (LEM) združuje raziskovalno opremo za pripravo in analizo različnih površin, ki je nujna za izvajanje razvojno-raziskovalnega dela odsekov IJS.

V laboratoriju je več ultravisoko vakuumskih sistemov z vrstično tunelsko mikroskopijo (Scanning tunneling microscopy - STM), kombinirano napravo za spektroskopijo Augerjevih elektronov (Auger electron spectroscopy - AES) in uklonom nizkoenergijskih elektronov (low-energy electron diffraction - LEED) ter različno opremo za in-situ čiščenje in prirpavo vzorcev.

STM je izredno zmogljiva metoda, ki omogoče vpogled v kristalno in elektronsko strukturo površin v realnem prostoru in v realnem času. Je nepogrešljivo orodje znanosti o površinah, saj omogoča poleg slikanja površin kovin in polprevodnikov z (pod)atomsko ločljivostjo ter meritev elektronske strukture vzorca pod konico v veliko energijsko ločljivostjo, tudi kontrolirano manipulacijo posameznih osnovnih gradnikov snovi – atomov in molekul.

Z AES preučujemo kemijsko sestavo, z LEED pa kontroliramo kristalno strukturo površine. Obe metodi sta občutljivi na površine in zaradi svoje relativne nezahtevnosti največkrat uporabljeni kot metodi za oceno kvalitete pripravljene površine.