[[V001/IJS/Arhiv|{{attachment:Rubrike/T898.jpg|Arhiv novic|width="350px"}}|&do=get]]

Raziskovalci in sodelavci raziskovalne skupine [[http://eccl.ijs.si/|Laboratorija za kemijo pod ekstremnimi pogoji (ECCL)]] Instituta "Jožef Stefan" (K. Motaln, A. Kokalj, K. Radan, M. Dragomir, B. Žemva in M. Lozinšek) so s partnerji z Inštituta za fiziko Češke akademije znanosti (K. Gurung, P. Brázda in L. Palatinus) v okviru dvostranskega skupnega raziskovalnega projekta CEUS, ki ga financirata agenciji GA ČR in ARIS, prvič uporabili 3D elektronsko difrakcijo na nanokristalih za določitev kristalne strukture reaktivnih ksenonovih spojin. V ta namen so razvili poseben protokol za rokovanje in prenos izjemno reaktivnih in na zrak občutljivih snovi, ki zagotavlja varen vnos teh vzorcev v transmisijski elektronski mikroskop. Razvita metoda omogoča strukturno analizo tudi drugih reaktivnih in občutljivih spojin ter materialov, kjer je vzgoja monokristalov otežena in zato določitev kristalne strukture s pomočjo rentgenske difrakcije običajno ni mogoča. Študija objavljena v reviji [[https://doi.org/10.1021/acscentsci.4c00815|ACS Central Science]] je izpostavljena na naslovnici, Ameriško kemijsko društvo (ACS) pa je članek predstavilo tudi v [[https://www.acs.org/pressroom/presspacs/2024/august/exploring-the-structures-of-xenon-containing-crystallites.html|sporočilu za javnost]].